残留応力のＸ線評価

目次

第１部　残留応力の基礎
　第１章　応力とひずみ（１．応力とひずみ：２．応力－ひずみ関係：３．弾性と塑性：４．応力集中と破壊力学）
　第２章　残留応力の発生・評価・制御（１．残留応力の発生原理と分類：２．残留応力の評価法：３．残留応力の発生：４．残留応力の制御・除去）
　第３章　残留応力と強度評価（１．残留応力と強度特性：２．残留応力と疲労：３．残留応力と応力腐食割れ）

第２部　Ｘ線応力測定の基礎
　第４章　結晶材料（１．結晶：２．結晶系：３．ミラー指数：４．格子面間隔）
　第５章　Ｘ線と回折（１．Ｘ線：２．Ｘ線の吸収と測定：３．結晶による回折：４．Ｘ線回折装置）
　第６章　多結晶のＸ線応力測定（１．Ｘ線測定ひずみ：２．平面応力状態でのＸ線応力測定の基礎式：３．３軸応力状態でのＸ線応力測定の基礎式：４．Ｘ線的弾性定数の測定：５．Ｘ線法による応力測定の光学系：６．鉄鋼材料のＸ線応力測定：７　セラミックスのＸ線応力測定）
　第７章　Ｘ線応力測定の実際（１．表面処理および表面除去による残留応力分布測定：２．ｓｉｎ２ψ線図の非線形要因：３．応力勾配：４．３軸応力解析：５．集合組織の影響：６．粗大粒と微小領域の応力測定：７．　Ｘ線応力測定装置）

第３部　Ｘ線応力測定法の応用
　第８章　シンクロトロン放射光による応力測定（１．シンクロトロン放射光：２．放射光による応力評価：３．局所応力測定と応力・ひずみマッピング）
　第９章　中性子回折による応力測定（１．中性子：２．中性子回折：３．中性子による応力測定：４．プロフィル解析：５．次世代パルス中性子残留応力測定装置）
　第１０章　多相材料・複合材料の応力評価（１．相応力とミクロ応力・マクロ応力：２．多相材料・複合材料の応力測定と回折弾性定数：３．各種材料のミクロ応力とマクロ応力：４．ミクロ応力と回折線の幅広がり）
　第１１章　表面改質・コーティングの応力評価（１．表面改質の方法と残留応力：２．ピーニングの残留応力：３．コーティングの残留応力）
　第１２章　薄膜の応力評価（１．薄膜残留応力の形成要因：２．多結晶薄膜のＸ線応力測定（強い配向性がない場合）：３．繊維配向した立方晶多結晶薄膜のＸ線応力測定理論：４．繊維配向した六方晶多結晶薄膜のＸ線応力測定理論（５．繊維配向膜の応力測定：６．散乱ベクトル一定法：７．　低角入射Ｘ線回折法による応力測定）
　第１３章　接合・溶接材の残留応力評価（１．接合法：２．機械的接合：３．接着接合：４。ろう接合：５．圧接：６．摩擦攪拌接合：７．融接）

第４部　結晶弾性のマイクロメカニツクス
　第１４章　単結晶の弾性変形（１．結晶弾性：２．等方弾性：３．立方晶：４．六方晶：５．三方晶）
　第１５章　単結晶のＸ線応力測定（１．単結晶のＸ線測定ひずみと応力との関係：２．回折角の測定から応力の決定：３．単結晶応力測定の実際）
　第１６章　多結晶・多相材料の回折弾性定（１．多結晶の回折弾性定数：２．多相材料の回折弾性定数：３．回折弾性定数をもとにした単結晶の弾性定数の決定）
　第１７章　繊維配向を有する立方晶多結晶薄膜のＸ線応力測定（１．繊維配向する薄膜の応力ひずみ関係の基礎式：２．〈１１１〉繊維配向の場合：３．〈００１〉繊維配向の場合：４．〈１１０〉繊維配向の場合：１７．５　Ｖｏｏｋ－Ｗｉｔｔモデル

　付録Ａ　ｃｏｓα法による多結晶のＸ線応力測定
　付録Ｂ　表面除去による残留応力分布の補正
　　Ｂ．１　単一はりの応力補正
　　Ｂ．２　複合はりの応力補正
　　Ｂ．３　中実円筒の応力補正
　付録Ｃ　圧電セラミックスのひずみ測定
　　Ｃ．１　圧電セラミックスの分極と格子ひずみ
　　Ｃ．２　外力による格子ひずみとドメインスイッチング
　付録Ｄ　ＲｅｕｓｓモデルおよびＶｏｉｇｔモデルによる多結晶の弾性定数の導出
　　Ｄ．１　Ｒｅｕｓｓモデルによる立方晶多結晶の回折弾性定数
　　Ｄ．２　Ｒｅｕｓｓモデルによる立方晶多結晶の機械的弾性定数
　　Ｄ．３　Ｖｏｉｇｔモデルによる立方晶多結晶の弾性定数
　　Ｄ．４　Ｒｅｕｓｓモデルによる立方晶多結晶の機械的弾性定数（別解）
　付録Ｅ　マイクロメカニックスによる多結晶・多相材料の弾性定数の導出
　　Ｅ．１　Ｋｒｏｎｅｒモデルによる立方晶多結晶の回折弾性定数および機械的弾性定数
　　Ｅ．２　多相材料のセルフコンシステントモデルによる弾性定数
　　Ｅ．３　多相材料のＥｓｈｅ１ｂｙ－Ｍｏｒｉ－Ｔａｎａｋａ（ＥＭＴ）モデルによる相応力と弾性定数
索引